儀器規(guī)格：

● 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （長x寬x高）

● 樣品倉尺寸：360mm×400mm x160（長x寬x高，高度可定制）

● 儀器重量：50kg

● 供電電源：AC220V/ 50Hz

● 大功率：330W

● 工作溫度：15-30℃

● 相對濕度：≤85%，不結露

應用領域:

● 根據不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試度。

● 配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型。

硬件配置：

探測器

● 類型：X123探測器（原裝進口電致冷半導體探測器）

● Be窗厚度：1mil

● 晶體面積：25mm2

● 佳分辨率：145eV

●信號處理系統(tǒng)：DP5

X射線管

●電壓：0-50v

●大電流;2mA

●大功率:50W

●靶材：Mo

●Be窗厚度：0.2mm

●使用壽命：大于2w小時

高壓電源

●輸出電壓：0-50Kv

●燈絲電流0-2mA

●大功率：50w

●紋波系數：0.1%（p-p值）

●8小時穩(wěn)定性：0.05%

攝像頭

●焦距：微焦距

●驅動:免驅動

●像素：500萬像素

準直器、濾光片

●系統(tǒng)：快拆卸準直器、濾光片系統(tǒng)

●材質：多種材質準直器

●光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選

十字激光頭

●光斑形狀：十字線

●輸出波長：紅光650nm

●光學透鏡：玻璃透鏡

●尺寸：Φ10×30mm

●發(fā)散角度：0.1-2mrad

●工作電壓：DC 5V

●輸出功率：<5mW

●工作溫度：－10～50℃

其它配件

●開關電源：進口開關電源

●散熱風扇：進口低噪聲、大風量風扇

產品特點：

1.1全自動三維樣品臺

1.2 X射線向下照射式，激光對焦

1.3小光斑設計

1.4測試時間靈活性調節(jié)

1.5多規(guī)格樣品倉

1.6 X-Ray探測器